在預(yù)防性試驗合格的耦合電容器會在運行中發(fā)生爆炸

來源：02595e.com    更新時間：2018-03-22

從耦合電容的結(jié)構(gòu)可知，整臺耦合電容器是由1 00個左右的單元件串聯(lián)后組成的。就電容量而言，其變化+IO%，在100個單元件如有10個以下的元件發(fā)生短路損壞，仍在允許范圍之內(nèi)。此時，另外90個左右單元電容要承擔(dān)較高的運行電壓，這對運行中的耦合電容器的絕緣造成了極大的危害。    
    造成耦合電容器損壞事故的主要原因多數(shù)是由于在出廠時就帶有一定的先天缺陷的廠家對電容芯子烘干不好，留有較多的水分；或元件卷制后沒有及時轉(zhuǎn)入壓裝’造成元件在空氣中的滯留時間太長，另外，還有在卷制中碰破電容器紙等。個別電容器由于膠圈密封不嚴(yán)，進(jìn)入水分。此時一部分沉積在電容器底部，另一部分水分在交流電場作用下將懸浮在油層的表面，此時如頂部單元件電容器有氣隙，它zui容易吸收水分，又由于頂部電容器的場強(qiáng)較高，這部分電容器zui易損壞。對損壞的電容器解體后分析得知，電容器表面已形成水膜，由于表面存在雜質(zhì)，使水膜迅速電離而導(dǎo)電，引起電容量的漂移，介電強(qiáng)度、電暈電壓和絕緣電阻降低，損耗增大，從而使電容器發(fā)熱，zui后造成了電容器的失效。所以每年的預(yù)防性試驗測量絕緣電阻、介質(zhì)損耗因數(shù)并計算出電容量是十分必要的。
    電容器的擊穿往往是與電場的不均勻相聯(lián)系的，在很大程度上決定于宏觀結(jié)構(gòu)和工藝條件，而電容器的擊穿就發(fā)生在這些弱點處。在電容器內(nèi)部，無論是先天缺陷還是在運行中受潮，都首先造成部分電容器損壞，運行電壓將被完好電容器重新分配，此時每個單元件上的電壓較正常時偏高，從而導(dǎo)致完好的電容器繼續(xù)損壞，zui后導(dǎo)致電容器擊穿。
    為了減少耦合電容器的爆炸事故發(fā)生，對運行中的耦合電容器應(yīng)連續(xù)監(jiān)測與帶電測量電容電流，并分析電容量的變化情況。

上一篇：規(guī)定電容器的電容值與出廠值之間的偏差與各種電容器的偏差要求值又不相同的矛盾

下一篇：SF6氣體含水量測量