匝間沖擊絕緣耐壓測(cè)試儀廠家

來(lái)源：02595e.com    更新時(shí)間：2020-06-01

匝間沖擊絕緣耐壓測(cè)試儀廠家簡(jiǎn)介
武漢摩恩提供匝間沖擊絕緣耐壓測(cè)試儀廠家價(jià)格，匝間沖擊絕緣耐壓測(cè)試儀報(bào)價(jià)，產(chǎn)品選型，技術(shù)支持，采用微型計(jì)算機(jī)技術(shù)把波形的各種參數(shù)量化處理，再用直觀的波形進(jìn)行顯示和判斷，操作簡(jiǎn)單，判斷準(zhǔn)確，自動(dòng)化程度高。該儀器體積小，重量輕，便于攜帶


匝間沖擊絕緣耐壓測(cè)試儀（即數(shù)字式匝間儀）可高效的、非破壞性的對(duì)有線圈繞組的部件進(jìn)行電氣試驗(yàn)。其原理是對(duì)標(biāo)準(zhǔn)線圈繞組和被測(cè)試?yán)@組施加相同的脈沖電壓，比較兩者的瞬態(tài)波形，以測(cè)試被測(cè)線圈的品質(zhì)。瞬態(tài)波形也就是線圈內(nèi)發(fā)生的衰減振蕩的波形，他可同時(shí)判斷該繞組的電感、品質(zhì)因素、繞組的圈數(shù)差及匝間短路情況，在有鐵芯的情況下，還可以判斷其材質(zhì)的差別等。在施加高壓脈沖的情況下，電暈放電的發(fā)生還可以對(duì)絕緣不良進(jìn)行判斷?？傊?，標(biāo)志線圈品質(zhì)的各個(gè)要素，可以在極短時(shí)間內(nèi)檢查完成。

本廠生產(chǎn)的MEZJ系列匝間沖擊絕緣耐壓測(cè)試儀，采用微型計(jì)算機(jī)技術(shù)把波形的各種參數(shù)量化處理，再用直觀的波形進(jìn)行顯示和判斷，操作簡(jiǎn)單，判斷準(zhǔn)確，自動(dòng)化程度高。該儀器體積小，重量輕，便于攜帶。

匝間沖擊耐壓試驗(yàn)儀選型
由于被測(cè)產(chǎn)品的不同，用戶需要根據(jù)實(shí)際情況選擇合適的匝間沖擊耐壓試驗(yàn)儀。下表列出了部分匝間沖擊耐壓試驗(yàn)儀的特點(diǎn)，以供用戶選擇。

儀器型號(hào)	主要特點(diǎn)說明
MEZJS-05系列	液晶顯示、多繞組、存標(biāo)準(zhǔn)波形、有存儲(chǔ)、有分選、有通訊、多路對(duì)比
MEZJ-05系列	液晶顯示、單繞組、存標(biāo)準(zhǔn)波形、有存儲(chǔ)、有分選、有通訊

匝間沖擊絕緣耐壓測(cè)試儀廠家主要技術(shù)指標(biāo)

型  號(hào)	MEZJ-03	MEZJS-03	MEZJ-05	MEZJS-05			MEZJ-10A 型
通道數(shù)	1通道	3通道	1通道	3通道			1通道
脈沖電壓范圍	300V~3kV		500V~5kV				1kV~10kV
脈沖電壓精度	±5%±15V		±5%±25V				±5%±50V
脈沖電壓步進(jìn)	50V		100V				200V
測(cè)量速度	約5次/秒
高壓源控制	開關(guān)電源由MCU控制
沖擊次數(shù)	單次EXT（1~29次）、連續(xù)INT
觸發(fā)方式	手控Manual、腳控Foot control、PC
檢測(cè)判斷模式	面積；面積差；電暈放電量；相位
聲響方式	合格聲響；不合格聲響；靜音
存儲(chǔ)波形能力	100個(gè)波形及其參數(shù)
波形分辨率	A/D：8位；采樣速度：25nS（40MHz）；波形點(diǎn)數(shù)：250
液晶顯示	分辨率：320×240；5.1英寸；藍(lán)底白字
功率	40W						50W
電源輸入	220VAC±10% 50Hz±5%
尺寸	400(W)×132(H)×430(D)				重量	約10kg
環(huán)境條件	使用溫度：10℃——30℃；使用濕度：20%——80%RH
	存儲(chǔ)溫度： 5℃——40℃：存儲(chǔ)濕度： 5%——90%RH
特殊功能及參數(shù)	按用戶要求定制

匝間沖擊絕緣耐壓測(cè)試儀廠家層間短路測(cè)試原理
層間短路測(cè)試能夠在不損壞被測(cè)件的條件下測(cè)試其電氣性能，首先條件是能在短暫的瞬間判別線圈的品質(zhì)。測(cè)試時(shí)與標(biāo)準(zhǔn)線圈測(cè)量時(shí)同樣的脈沖通過電容器施加于被測(cè)試線圈，由于線圈電感量和Q值的存在，將響應(yīng)一個(gè)對(duì)應(yīng)于該放電脈沖的電壓衰減波形，比較該衰減波形的某些特征，可以檢測(cè)線圈匝間和層間短路及圈數(shù)和磁性材料的差異，也可以根據(jù)出現(xiàn)的電暈或?qū)娱g放電來(lái)判斷絕緣不良。

圖1.4.1-1 線圈層間短路測(cè)試原理簡(jiǎn)圖

匝間沖擊絕緣耐壓測(cè)試儀廠家儀器工作原理
MEZJ系列匝間沖擊耐壓試驗(yàn)儀以MCU中央信息處理系統(tǒng)為核心，由它控制高壓脈沖發(fā)生器對(duì)線圈施加一次極短時(shí)間的高壓脈沖，線圈在脈沖作用下產(chǎn)生自由衰減振蕩,其瞬態(tài)波形的模擬信號(hào)經(jīng)高速A/D轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)后反饋至MCU信息處理系統(tǒng)進(jìn)行時(shí)間、電暈量、面積、相位等參數(shù)的運(yùn)算，處理結(jié)果保存在MCU信息處理系統(tǒng)的電子存儲(chǔ)器中，并用直觀易懂的文字、數(shù)據(jù)及圖形顯示在240×320點(diǎn)陣液晶模塊LCM上，從而保證了波形重現(xiàn)的真實(shí)性。并且根據(jù)用戶設(shè)定的條件,對(duì)合格或不合格者進(jìn)行報(bào)警處理。

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